高精度薄膜壓力分佈量測系統
2026.07.02

創智先進開發之最新高精度薄膜壓力分佈量測系統。

可以協助客戶檢測細微壓力分佈,並快速分析受壓的壓力與分狀狀態,並AI分析出壓力比較下可能的問題成因,協助客戶在先進製程下進行改善。可應用在Die Bond固晶檢測,晶片受壓力狀況分析,取放件水平檢測,氣密水密之密封狀態檢測等應用。